文献
J-GLOBAL ID：200902174594431979   整理番号：98A0137704

Non-contact scanning probe microscopy with sub-piconewton force sensitivity.

著者 (5件)：
AOKI T

AOKI T について

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

Osaka Univ., Osaka, JPN について

, 
HIROSHIMA M

HIROSHIMA M について

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

Osaka Univ., Osaka, JPN について

, 
KITAMURA K

KITAMURA K について

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

Osaka Univ., Osaka, JPN について

, 
TOKUNAGA M

TOKUNAGA M について

(Japan Sci. and Technol. Corp., Osaka, JPN)

Japan Sci. and Technol. Corp., Osaka, JPN について

, 
YANAGIDA T

YANAGIDA T について

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

Osaka Univ., Osaka, JPN について


資料名：
Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)

Ultramicroscopy について


巻： 70  号： 1/2  ページ： 45-55  発行年： 1997年12月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

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