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J-GLOBAL ID：200902201700532019   整理番号：05A0719660

走査型トンネル顕微鏡用のカーボンナノチューブの金属被膜の研究

Exploiting Metal Coating of Carbon Nanotubes for Scanning Tunneling Microscopy Probes

著者 (13件)： MURATA Yuya (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YOSHIMOTO Shinya (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KISHIDA Masaru (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MAEDA Daisuke (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YASUDA Tatsuro (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  IKUNO Takashi (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HONDA Shin-ichi (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OKADO Hideaki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HOBARA Rei (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  MATSUDA Iwao (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HASEGAWA Shuji (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  OURA Kenjiro (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KATAYAMA Mitsuhiro (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 44  号： 7B  ページ： 5336-5338  発行年： 2005年07月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡(TEM)用のカーボンナノチューブ(CNT)...

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (11件)：

• 1) S. Hasegawa, I. Shiraki, F. Tanabe, R. Hobara, T. Kanagawa, T. Tanikawa, I. Matsuda, C. L. Petersen, T. M. Hansen, P. Boggild and F. Grey: Surf. Rev. Lett. 10 (2003) 963.
• 2) T. Kanagawa, R. Hobara, I. Matsuda, T. Tanikawa, A. Natori and S. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 91 (2003) 036805.
• 3) I. Matsuda, M. Ueno, T. Hirahara, R. Hobara, H. Morikawa, C. Liu and S. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 93 (2004) 236801.
• 4) T. Ikuno, M. Katayama, M. Kishida, K. Kamada, Y. Murata, T. Yasuda, S. Honda, J.-G. Lee, H. Mori and K. Oura: Jpn. J. Appl. Phys. 43 (2004) L644.
• 5) H. Nishijima, S. Kamo, S. Akita, Y. Nakayama, K. I. Hohmura, S. H. Yoshimura and K. Takeyasu: Appl. Phys. Lett. 74 (1999) 4061.

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  カーボンナノチューブ ,  被膜 ,  研究