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J-GLOBAL ID：200902202104937237   整理番号：09A1082106

STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究

著者 (1件)： 相京隆 (半導体理工学研究セ)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 31  号： 7  ページ： 506-513  発行年： 2009年10月01日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年の半導体の微細化,高集積化に伴い,LSIのテスト,故障診断の重要性が増している。そのため,テスト,故障診断技術の研究開発が活発に行われてきている。本稿では,筆者の所属する(株)半導体理工学研究センターで研究開発を行っているテスト・故障診断技術の概要紹介を行う。さらに,その中でも故障診断技術における最近の研究成果について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *LSI【IC】 ,  *回路試験 ,  *故障診断 ,  故障解析 ,  データ ,  BIST ,  CAD【計算機】 ,  故障検出 ,  技術 ,  論理回路 ,  記憶装置 ,  試験データ
準シソーラス用語： EDA ,  テストデータ ,  テスト生成 ,  最新技術

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (9件)：

• SATO, Y. Invisible Delay Quality. SDQM Model Lights Up What Could Not Be Seen. Proc. IEEE International Test Conference, 2005. 2005
• NODA, K. Power and Noise Aware Test Using Preliminary Estimation. Proc. VLSI-Design Automation and Test, 2009. 2009, 323-326
• MIYASE, K. Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification. Proc. ICCAD, 2008. 2008, 52-58
• 相京隆. 遷移故障に対する診断用テスト生成法. 信学技報. 2008, 107, 482, 13-18
• 樋上喜信. 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法. 信学技報. 2009, 109, 95, 19-24

タイトルに関連する用語 (3件)： LSI ,  故障診断 ,  研究