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J-GLOBAL ID：200902203862785452   整理番号：05A0155184

X線光電子回折による高温でのZr-O/W(100)の表面構造分析

Surface structure analysis of Zr-O/W(100) at high temperature by x-ray photoelectron diffraction

著者 (9件)： TAMURA K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  AMANO M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  CHU W-G (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KAWANO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAGATOMI T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAKAI Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OSHIMA C (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SHIMIZU R (Osaka Inst. of Technol., Osaka, JPN) ,  NIHEI Y (Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 37  号： 2  ページ： 217-220  発行年： 2005年02月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低エネルギー電子回折で表面の相転移を観察することによって,Z...

シソーラス用語： *X線光電子回折 ,...

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分類 (3件)： 物理化学一般その他  (CB01030T) ,  電子分光法  (BK01050P) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線光電子回折 ,  Zr ,  構造分析