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J-GLOBAL ID：200902204929181790   整理番号：03A0213082

点接触電流画像化原子間力顕微鏡 単一壁炭素ナノチューブ束のチューブ間接触抵抗の測定

Point-contact current-imaging atomic force microscopy: Measurement of contact resistance between single-walled carbon nanotubes in a bundle.

著者 (4件)： OTSUKA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAITOH Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MATSUMOTO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KAWAI T (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 82  号： 12  ページ： 1944-1946  発行年： 2003年03月24日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノスケールで電流電圧特性を測定する新しい方法として,点接触...

シソーラス用語： *点接触 ,...
準シソーラス用語： 束構造

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分類 (2件)： 界面の電気的性質一般  (BM03081H) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

タイトルに関連する用語 (7件)： 点接触 ,  画像化 ,  原子間力顕微鏡 ,  炭素ナノチューブ ,  束 ,  チューブ ,  接触抵抗