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J-GLOBAL ID：200902215989136699   整理番号：04A0899448

弾道電子放出顕微鏡をベースにしたホット電子回折実験の数値基礎

Numerical Foundation of Hot-Electron Diffraction Experiment Based on Ballistic Electron Emission Microscope

著者 (3件)： MACHIDA N (Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  KANOH H (Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  FURUYA K (Sci. and Engineering Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43  号： 11A  ページ： 7390-7394  発行年： 2004年11月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 弾道電子放出顕微鏡(BEEM)をベースにした以前提案した固体...

シソーラス用語： *電子回折 ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (13件)：

• 1) K. Furuya: J. Appl. Phys. 62 (1987) 1492.
• 2) K. Furuya, Y. Ninomiya, N. Machida and Y. Miyamoto: Phys. Rev. Lett. 91 (2003) 216803.
• 3) N. Machida, M. Fukasawa and K. Furuya: 7th International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (nano-7), 21st European Conference on Surface Science (ECOSS-21), TH-P-091, Malmo, Sweden, June, 2002.
• 4) W. J. Kaiser and L. D. Bell: Phys. Rev. Lett. 60 (1988) 1406.
• 5) V. Narayanamurti and M. Kozhevnikov: Phys. Rep. 349 (2001) 447.

タイトルに関連する用語 (5件)： 弾道電子放出顕微鏡 ,  電子回折 ,  実験 ,  数値 ,  基礎