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J-GLOBAL ID：200902216563207706   整理番号：07A0377187

硬X線光電子分光を用いたFe_3-xM_xO₄(M=Zn,Mn)薄膜の電子構造評価

著者 (13件)： 鷹尾伏純一 (大阪大 産科研) ,  石川瑞恵 (大阪大 産科研) ,  佐藤一成 (大阪大 産科研) ,  田中秀和 (大阪大 産科研) ,  川合知二 (大阪大 産科研) ,  上田茂典 (物質・材料研究機構) ,  KIM J.-J. (JASRI/SPring-8) ,  小畠雅明 (JASRI/SPring-8) ,  池永英司 (JASRI/SPring-8) ,  小林啓介 (JASRI/SPring-8) ,  西野吉則 (理研/SPring-8) ,  三論大吾 (理研/SPring-8) ,  玉作賢治 (理研/SPring-8)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 54th  号： 2  ページ： 655  発行年： 2007年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 硬X線 ,...
準シソーラス用語： 価電子帯

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分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 硬X線光電子分光 ,  Mn ,  薄膜 ,  電子構造 ,  評価