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J-GLOBAL ID:200902221873425553   整理番号:09A0595903

サブミクロン単一粉末結晶粒の構造決定用のX線回折測定

X-ray diffractometry for the structure determination of a submicrometre single powder grain
著者 (25件):
資料名:
巻: 16  号:ページ: 352-357  発行年: 2009年05月 
JST資料番号: W0763A  ISSN: 0909-0495  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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サブミクロン大の単一粉末結晶粒の構造を解析するために,SPring-8のBL40XUアンジュレータビームラインに高精度の回折計を開発した。安定した集束シンクロトロン放射ビームと回折計の精密な軸制御により正確な回折強度データが得られる。高束の集束シンクロトロン放射を得るために位相ゾーンプレートを設計した。低離心率ゴニオメータと高精度試料位置決め台を用いて,単一粉末結晶粒にマイクロビームを整列させた。大きさが約600×600×300nmのBatiO3粉末結晶粒の回折パターンを測定した。
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分類 (1件):
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X線回折法 
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