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J-GLOBAL ID：200902243441842173   整理番号：03A0271283

発変電所装置搭載パワー半導体素子の寿命推定と搭載素子の検査手法・検出装置の開発評価

Novel Monitoring Method and Failure-age Estimation of Power Semiconductor Devices in Power Utilities

著者 (2件)： 堀内利一 (関西電力 総技研 電力技研) ,  菅原良孝 (関西電力 総技研 電力技研)
資料名： 電気学会論文誌 D  (IEEJ Transactions on Industry Applications)
巻： 123  号： 4  ページ： 429-436  発行年： 2003年04月01日 
JST資料番号： X0451A  ISSN： 0913-6339  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 発・変電所における整流装置や発電機励磁装置用パワー半導体素子...

シソーラス用語： *ダイオード ,...
準シソーラス用語： 劣化検出

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分類 (2件)： ダイオード  (NC03050R) ,  設備管理  (KB02020X)

引用文献 (10件)：

• HORIUCHI, T. Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices Used Power Station Rectifiers and Substation Rectifiers. T. IEE Japan, D. 2000, 120, 3, 397-403
• HORIUCHI, T. Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices Used in Substation Rectifiers. The 10th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs: Proceedings of 10th ISPSD. 1998, 195-198
• HORIUCHI, T. Novel Monitoring Method and Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices in Power Utilities. The 13th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs: Proceedings of 13th ISPSD. 2001, 75-78
• 菅原良孝. 変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性(1). 平9電気学会全大. 778
• 堀内利一. 変電所整流装置搭載パワー半導体素子の長期信頼性(2). 平10電気学会全大. 737

タイトルに関連する用語 (9件)： 変電所 ,  パワー ,  半導体素子 ,  寿命推定 ,  検査 ,  手法 ,  検出装置 ,  開発 ,  評価