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J-GLOBAL ID：200902247835900026   整理番号：08A0424940

偏光ラマン分光法を用いた分極軸単一配向した正方晶PZT厚膜の評価

著者 (11件)： 中島光雅 (東京理大) ,  藤沢隆志 (東京工大) ,  加茂嵩史 (東京工大) ,  安井伸太郎 (東京工大) ,  長田実 (物質・材料研究機構) ,  西田謙 (防衛大) ,  山本孝 (防衛大) ,  河東田隆 (高知工科大) ,  永沼博 (東京理大) ,  岡村総一郎 (東京理大) ,  舟窪浩 (東京工大)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 55th  号： 2  ページ： 564  発行年： 2008年03月27日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 偏光 ,  Raman分光法 ,  *分極 ,  *配向 ,  正方晶系 ,  *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  厚膜 ,  圧電材料 ,  アクチュエータ ,  MEMS ,  構造解析 ,  MOCVD ,  フッ化カルシウム ,  エピタクシー ,  Arレーザ
準シソーラス用語： 正方晶 ,  *PZT【鉛化合物】 ,  エピタキシャル成長 ,  アルゴンレーザ

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (8件)： 偏光 ,  ラマン分光法 ,  分極 ,  配向 ,  正方晶 ,  PZT ,  厚膜 ,  評価