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J-GLOBAL ID：200902250258644482   整理番号：03A0408899

電気接点表面損傷の3次元解析へのディジタル走査レーザ顕微鏡の応用

Application of a Digital Scanning Laser Microscope to 3-D Analysis of Contact Surface Damages

著者 (3件)： HASEGAWA M (Chitose Inst. Sci. & Technol., Chitose-shi, JPN) ,  MAKIMOTO J (Keio Univ., Yokohama-shi, JPN) ,  SAWA K (Keio Univ., Yokohama-shi, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E86-C  号： 6  ページ： 932-938  発行年： 2003年06月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試料表面に点光源レーザ光線を集束照射して,その反射光線をシー...

シソーラス用語： *電気接点 ,...

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分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

引用文献 (7件)：

• TAMAI, T. Remarkable improvement in contact resistance property of the Ag-Pd alloy with oxide film by doping agents. Proc. 42nd IEEE Holm Conf. 1996, 479-487
• SCHNEEGANS, O. Fretting degradation of tin-plated contacts studied by means of a new electrical cartography technique based on an atomic force microscopy. Proc. 19th Intl. Conf. on Electric Contact Phenomena. 1998, 187-193
• HETZMANNSEDER, E. Field vs. erosion model investigation for contactor contacts. Proc. 19th Intl. Conf. on Electric Contact Phenomena. 1998, 349-353
• ZHOU, Y. L. Investigation of the thickness of lubricant film on gold plated surface. Proc. 44th IEEE Holm Conf. 1998, 159-165
• EBARA, Y. A high-resolution measurement system for surface profile of electric contact. IEICE Trans. Electron. 1998, E81-C, 3, 432-434

タイトルに関連する用語 (7件)： 電気接点 ,  表面損傷 ,  3次元解析 ,  ディジタル ,  走査 ,  レーザ顕微鏡 ,  応用