残留ガス暴露後のSi及びHfCエミッタアレイに関する放出統計

NICOLAESCU D.; NAGAO M.; SATO T.; FILIP V.; KANEMARU S.; ITOH J.

文献

J-GLOBAL ID：200902261634744983 整理番号：05A0450654

残留ガス暴露後のSi及びHfCエミッタアレイに関する放出統計

Emission statistics for Si and HfC emitter arrays after residual gas exposure

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資料名：
巻： 23 号： 2 ページ： 707-717 発行年： 2005年03月
JST資料番号： E0974A ISSN： 1071-1023 CODEN： JVTBD9 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

SiあるいはHfC被覆の100個のエミッタからなる電界放出ア...

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熱電子放出,電界放出 , その他の固体デバイス

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