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J-GLOBAL ID:200902262815443892   整理番号:05A1041668

余剰ラッチのない2パターン試験のためのスキャン設計

Scan Design for Two-Pattern Test without Extra Latches
著者 (2件):
資料名:
巻: E88-D  号: 12  ページ: 2777-2785  発行年: 2005年12月01日 
JST資料番号: L1371A  ISSN: 0916-8532  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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スキャン設計を2パターン試験に適用する3種の周知の手法がある...
シソーラス用語:
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準シソーラス用語:
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分類 (2件):
分類
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集積回路一般  ,  CAD,CAM 
引用文献 (13件):
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タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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