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J-GLOBAL ID:200902279597479430   整理番号:04A0543851

フォトナノインプリントリソグラフィーにおけるドライエッチングでの光硬化ポリマのパターン収縮率と粗さの減少

Reducing Photocurable Polymer Pattern Shrinkage and Roughness during Dry Etching in Photo-Nanoimprint Lithography
著者 (5件):
資料名:
巻: 43  号: 6B  ページ: 4022-4026  発行年: 2004年06月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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光硬化ポリマをフォトナノインプリントリソグラフィーに適用する...
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 
引用文献 (16件):
  • 1) S. Y. Chou, P. R. Krauss and P. J. Renstrom: J. Vac. Sci. & Technol. B <B>14</B> (1996) 4129.
  • 2) J. Haisma, M. Verheijen, K. van den Heuvel and J. van den Berg: J. Vac. Sci. & Technol. B <B>14</B> (1996) 4124.
  • 3) M. Colburn, A. Grot, B. J. Choi, A. Amistoso, T. Bailey, S. V. Sreenivassen, J. G. Ekerdt and C. G. Willson: J. Vac. Sci. & Technol. B <B>19</B> (2001) 2162.
  • 4) M. Komuro, J. Taniguchi, S. Inoue, N. Kimura, Y. Tokano, H. Hiroshima and S. Matsui: Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) 7075.
  • 5) P. Ruchhoeft, M. Colburn, B. Choi, H. Nounu, S. Johnson, T. Bailey, S. Damle, M. Stewart, J. Ekerdt, S. V. Sreenivasan, J. C. Wolfe and C. G. Willson: J. Vac. Sci. & Technol. B <B>17</B> (1999) 2965.
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