文献

J-GLOBAL ID：200902285850093373   整理番号：05A0424703

大規模ディジタル集積回路内の電源雑音分布と接地雑音分布をプロービングするためのビルトイン技術

A Built-in Technique for Probing Power Supply and Ground Noise Distribution Within Large-Scale Digital Integrated Circuits

著者 (3件)： NAGATA Makoto (Kobe Univ., Kobe, JPN) ,  OKUMOTO Takeshi (Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN) ,  TAKI Kazuo (AIL Corp., Kobe, JPN)
資料名： IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 40  号： 4  ページ： 813-819  発行年： 2005年04月 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現在の130nm技術および次期100nm・CMOS技術におけ...

シソーラス用語： *ディジタル集積回路 ,...
準シソーラス用語： 電源雑音 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0424703&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0761A") }}

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 大規模 ,  ディジタル集積回路 ,  電源雑音 ,  分布 ,  接地 ,  雑音