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J-GLOBAL ID：200902285932789376   整理番号：08A1241420

可逆回路における故障検出

On Fault Testing for Reversible Circuits

著者 (3件)： TAYU Satoshi (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  ITO Shigeru (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  UENO Shuichi (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E91-D  号： 12  ページ： 2770-2775  発行年： 2008年12月01日 
JST資料番号： L1371A  ISSN： 0916-8532  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 可逆回路のテストは,すべての縮退故障を網羅するのに必要とするテストベクトルが少ないという意味で,従来からの非可逆回路と比べて相対的に容易である。しかし本稿は,可逆回路の配線上の縮退故障に対する最小の完全テストセットを生成することはNP困難であるということを,3SATからこの問題への多項式時間還元を用いて示す。また,最小の完全テストセットのサイズに対する重要な下界を示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *故障検出 ,  縮退故障 ,  *可逆回路 ,  *回路試験 ,  完全性 ,  充足可能性問題 ,  NP完全問題 ,  Boole関数
準シソーラス用語： テストベクトル

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (7件)：

• BENNETT, C. Logical reversiblity of computation. IBM J. Res. Dev. 1973, 17, 525-532
• CHAKRABORTY, A. Synthesis of reversible circuits for testing with universal test set and c-testability of reversible iterative logic array. Proc. 18th International Conference on VLSI Design, 2005. 2005
• LANDAUER, R. Irreversibility and heat generation in the computing process. IBM J. Res. Dev. 1961, 5, 183-191
• MERKLE, R. Two types of mechanical reversible logic. Nanotechnology. 1993, 4, 114-131
• NIELSEN, M. Quantum Computation and Quantum Information. 2000

タイトルに関連する用語 (2件)： 可逆回路 ,  故障検出