特許
J-GLOBAL ID：200903000068944738

位置方向検出機能付き3次元上特性測定・表示装置

発明者：
田村 雅巳

田村 雅巳 について


出願人/特許権者：
株式会社松風

株式会社松風 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-029914
公開番号（公開出願番号）：特開2008-194108
出願日： 2007年02月09日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：
【課題】プローブと被計測体の相対的位置方向関係を計測・算出し、1回で計測可能な計測領域より広い範囲の計測データを一括して見ると共に、口腔内等の小さな領域内にもプローブを適用できる様にする。【解決手段】プローブまたは被計測体に配した特定部位の位置および/または方向を計測する位置方向計測手段を有するか、被計測体に対して前記プローブの位置方向が一定の軌跡で動きながら計測を行ない、さらに、生成した被計測体と前記プローブの相対的1〜3次元位置方向運動軌跡データと被計測体表面および内部の1〜3次元反射特性データを時空間的に同期配置させることにより、被計測体の2〜3次元的な構造情報または組成情報または材質変化情報またはこれらの運動情報を得て、これらの断面を主とした断層像を表示する光コヒーレンストモグラフィー装置を提供する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
被計測体の少なくとも1次元以上の空間上の特性を計測するために、3次元空間上で被計測体に対してその位置方向が相対的に移動可能な計測ヘッドであるプローブを持ち、さらに計測データを演算処理するデータ演算部を持つ3次元上特性測定・表示装置において、 前記プローブまたは被計測体に配した特定部位の位置・方向のいずれかまたは双方を計測する位置方向計測手段を有するか、被計測体に対して前記プローブの相対的位置方向があらかじめ決まった軌跡で動きながら計測を行なうことを特徴とする3次元上特性測定・表示装置。
IPC (4件)：
A61B 1/24 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  A61B 1/00
FI (4件)：
A61B1/24 ,  A61B10/00 E ,  G01N21/17 625 ,  A61B1/00 300D
Fターム (27件)：
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  4C061AA09 ,  4C061BB08 ,  4C061HH52 ,  4C601BB03 ,  4C601BB09 ,  4C601EE05 ,  4C601GA19 ,  4C601GA21 ,  4C601JB48 ,  4C601JB51 ,  4C601JC02 ,  4C601JC04 ,  4C601JC20 ,  4C601KK12
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (3件)

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