特許
J-GLOBAL ID:200903000267064330
金属試料中の非金属介在物組成及び/又は粒径の分析法
発明者:
,
,
,
,
,
出願人/特許権者:
,
,
代理人 (1件):
小谷 悦司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-054690
公開番号(公開出願番号):特開2001-242144
出願日: 2000年02月29日
公開日(公表日): 2001年09月07日
要約:
【要約】【課題】 鉄鋼または非鉄金属中に存在する非金属介在物の組成及び粒径を迅速に測定する。【解決手段】 金属表面及び/又は内部に存在する非金属介在物の組成及び/又は粒径を、レーザー励起-ICP分析法により定量する。好ましくは、鉄鋼または非鉄金属から切り出した試料、または大型塊状試料にレーザー光を照射することにより介在物を蒸発させた後、高温の誘導結合プラズマ中でイオン化して、生成したイオンの個数を質量分析装置または発光分光光度計で計測し、各元素についてのスペクトルの時間曲線から介在物によるピークを積分処理して求める。
請求項(抜粋):
金属表面及び/又は内部に存在する非金属介在物の組成及び/又は粒径を、レーザー励起-ICP分析法により定量することを特徴とする非金属介在物の組成及び/又は粒径の分析法。
IPC (4件):
G01N 27/62
, G01N 15/02
, G01N 21/73
, G01N 33/20
FI (4件):
G01N 27/62 V
, G01N 15/02 D
, G01N 21/73
, G01N 33/20 J
Fターム (16件):
2G043AA01
, 2G043CA05
, 2G043DA01
, 2G043DA05
, 2G043EA08
, 2G043GA07
, 2G043GB07
, 2G043GB21
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA01
, 2G055AA01
, 2G055BA01
, 2G055EA10
, 2G055FA02
, 2G055FA10
引用特許:
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示
引用文献:
前のページに戻る