特許
J-GLOBAL ID:200903000346928781
窒化物半導体層の形成方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (6件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-230344
公開番号(公開出願番号):特開2008-053593
出願日: 2006年08月28日
公開日(公表日): 2008年03月06日
要約:
【課題】サファイア基板と窒化物半導体層との間に低温バッファ層を介在させることなく、平坦で高品質の無極性窒化物半導体層を結晶成長させる窒化物半導体層の形成方法を提供する。【解決手段】窒化物系半導体層の形成方法は、窒化物系半導体層の形成前にサファイア基板の一主面を800°Cから1200°Cの範囲の温度で窒化処理し、その窒化処理されたサファイア基板面上に有機金属気相成長法により窒化物半導体層を結晶成長させる。【選択図】図4
請求項(抜粋):
サファイア基板の一主面を窒化処理し、
前記窒化処理された前記主面上に窒化物半導体層を結晶成長させることを特徴とする窒化物半導体層の形成方法。
IPC (8件):
H01L 21/205
, H01L 33/00
, H01S 5/323
, C30B 29/38
, C30B 25/18
, C23C 16/02
, C23C 16/34
, H01L 21/318
FI (9件):
H01L21/205
, H01L33/00 C
, H01S5/323 610
, C30B29/38 D
, C30B25/18
, C23C16/02
, C23C16/34
, H01L21/318 B
, H01L21/318 M
Fターム (57件):
4G077AA02
, 4G077AA03
, 4G077AB02
, 4G077BE15
, 4G077DB08
, 4G077EC09
, 4G077ED05
, 4G077ED06
, 4G077EE06
, 4G077HA02
, 4G077TA04
, 4G077TA06
, 4G077TB05
, 4G077TC01
, 4G077TC13
, 4G077TK01
, 4G077TK06
, 4K030AA11
, 4K030AA13
, 4K030BA08
, 4K030BA38
, 4K030CA05
, 4K030DA02
, 4K030FA10
, 4K030HA01
, 4K030JA06
, 4K030JA10
, 4K030JA11
, 4K030LA14
, 5F041AA40
, 5F041CA23
, 5F041CA40
, 5F041CA46
, 5F041CA65
, 5F045AA04
, 5F045AB14
, 5F045AC08
, 5F045AC12
, 5F045AD15
, 5F045AF09
, 5F045BB12
, 5F045CA10
, 5F045CA12
, 5F058BA06
, 5F058BB06
, 5F058BC09
, 5F058BF56
, 5F058BF64
, 5F173AG11
, 5F173AH22
, 5F173AH44
, 5F173AP06
, 5F173AP24
, 5F173AQ12
, 5F173AQ16
, 5F173AR84
, 5F173AR92
引用特許:
前のページに戻る