特許
J-GLOBAL ID:200903034562922455

金属・有機化学気相成長によって成長した非極性a平面窒化ガリウム薄膜

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-586402
公開番号(公開出願番号):特表2005-522889
出願日: 2003年04月15日
公開日(公表日): 2005年07月28日
要約:
平坦な表面を有する非極性(1120)a平面の窒化ガリウム(GaN)フィルムが、非極性(1120)a平面GaN薄膜の高温成長の前に、低温核生成層を緩衝層として使用することによって、(1102)r平面サファイア基板上で成長される。本発明は、デバイス品質の、非極性のa平面GaN薄膜を、MOCVDを介して、r平面サファイア基板上で成長させるための方法を記載する。本発明は、分極により誘導される効果のない、窒化物ベースのデバイスのための経路を提供する。なぜなら、非極性のa平面GaN薄膜の成長方向は、極性のc軸に対して垂直であるからである。分極により誘導される電場は、存在する場合、非極性のa平面GaN薄膜上で成長する(Al,B,In,Ga)Nデバイス層に対して、最小の影響を有する。
請求項(抜粋):
非極性のa平面窒化ガリウム薄膜を、r平面基板上で、金属・有機化学気相成長によって成長させる方法であって、以下の工程: (a)該基板をアニールする工程; (b)窒化物ベースの核生成層を、該基板上に堆積させる工程; (c)該非極性のa平面窒化ガリウムフィルムを、該核生成層上で成長させる工程;および (d)窒素の過剰圧力下で、該非極性のa平面窒化ガリウムフィルムを冷却する工程、 を包含する、方法。
IPC (2件):
H01L21/205 ,  C30B29/38
FI (2件):
H01L21/205 ,  C30B29/38 D
Fターム (17件):
4G077AA03 ,  4G077BE15 ,  4G077DB08 ,  4G077EF03 ,  4G077HA02 ,  5F045AA04 ,  5F045AB14 ,  5F045AC08 ,  5F045AC12 ,  5F045AF09 ,  5F045AF13 ,  5F045CA02 ,  5F045CA07 ,  5F045CA09 ,  5F045DA67 ,  5F045EE12 ,  5F045EJ01
引用特許:
審査官引用 (3件)
引用文献:
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