特許
J-GLOBAL ID:200903000422800897
光学的測定装置及びそれを用いた特異的結合物の光学的測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-378660
公開番号(公開出願番号):特開2005-140683
出願日: 2003年11月07日
公開日(公表日): 2005年06月02日
要約:
【課題】 本発明は、特異的結合物をB/F分離が不必要で、感度及び精度よく測定しうる光学的測定装置及びそれを用いた特異的結合物の光学的測定方法を提供する。【解決手段】 流体試料中の特異的結合物を光学的に測定する装置であって、蛍光標識又は光散乱標識が結合された第2の特異的結合メンバーと結合した被測定物質と、特異的に結合して前記特異的結合物を構成しうる第1の特異的結合メンバーが、一表面に固定されている反応部と、光線入射側縁面を有する透明な導波路(A)の他表面に透明な中間層(B)及び光吸収層(C)が順次積層されており、導波路(A)の屈折率をnw 、中間層(B)の屈折率をnm 、流体試料の屈折率をns とすると、各屈折率が下記式(1)を満足することを特徴とする光学的測定装置。nw >nm ≧ns ・・・(1)【選択図】 図1
請求項(抜粋):
流体試料中の特異的結合物を光学的に測定する装置であって、蛍光標識又は光散乱標識
が結合された第2の特異的結合メンバーと結合した被測定物質と、特異的に結合して前記
特異的結合物を構成しうる第1の特異的結合メンバーが、一表面に固定されている反応部
と、光線入射側縁面を有する透明な導波路(A)の他表面に透明な中間層(B)及び光吸
収層(C)が順次積層されており、導波路(A)の屈折率をnw 、中間層(B)の屈折率
をnm 、流体試料の屈折率をns とすると、各屈折率が下記式(1)を満足することを特
徴とする光学的測定装置。
nw >nm ≧ns ・・・(1)
IPC (6件):
G01N21/64
, G01N21/27
, G01N21/78
, G01N33/543
, G01N33/545
, G01N33/566
FI (8件):
G01N21/64 G
, G01N21/64 F
, G01N21/27 C
, G01N21/78 C
, G01N33/543 575
, G01N33/543 595
, G01N33/545 A
, G01N33/566
Fターム (35件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043JA02
, 2G043KA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA03
, 2G043MA01
, 2G054AA06
, 2G054AB04
, 2G054CE02
, 2G054EA03
, 2G054EA05
, 2G059AA05
, 2G059BB04
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD03
, 2G059EE02
, 2G059FF12
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH03
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059NN01
引用特許:
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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