特許
J-GLOBAL ID：200903000457109976

回転体の非接触式電位測定方法、および、同装置

発明者：
伊藤 裕蔵

伊藤 裕蔵 について

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露木 龍夫

露木 龍夫 について

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名取 章二

名取 章二 について


出願人/特許権者：
日立コンピュータ機器株式会社

日立コンピュータ機器株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人プロテック
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-324578
公開番号（公開出願番号）：特開2007-132734
出願日： 2005年11月09日
公開日（公表日）： 2007年05月31日
要約：
【課題】回転部材の電位を測定する技術を改良して、測定精度を向上させる。【解決手段】回転部材2に対向,離間せしめて非接触プローブ6を配置し、両者を静電容量結合させる。モータ1に発生した電気的ノイズによって、非接触プローブ6に誘導電位が発生し、オシロスコープ4で読み取られる。接触プローブ3は比較対照のために描いた従来例の部材である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
モータ、またはモータに接続されて回転している部材の電位を測定する方法において、 導電性の材料で構成された非接触プローブを、モータによって回転せしめられている部材に対向,離間せしめて静電容量結合せしめ、 上記非接触プローブをオシロスコープに接続して、該非接触プローブに誘導される電位を計測することを特徴とする、回転体の非接触式電位測定方法。
IPC (1件)：
G01R 29/12
FI (1件)：
G01R29/12 G
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (5件)
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