金属板の回折X線分布の測定方法とその測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：安田敏雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-102921
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311164
出願日： 1994年05月17日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：

【要約】【目的】シンチレータを金属板からできるだけ遠く離して回折X線分布を測定することによって、金属板が一定速度で流れておりしかもその金属板に上下変動があっても回折X線分布を正確に把握できるようにする。【構成】コリメートされた特性X線2を一定方向に搬送される金属板3に照射し、この金属板3の表面からの回折X線5を二次元に広がりをもつ面状シンチレータ6で受け、この面状シンチレータ6の発光状態を高感度撮像器7で撮像する。

請求項（抜粋）：

コリメートされた特性X線を一定方向に搬送される金属板に照射し、この金属板の表面からの回折X線を二次元に広がりをもつ面状シンチレータで受け、この面状シンチレータの発光状態を高感度撮像器で撮像することを特徴とする金属板の回折X線分布の測定方法。

IPC (3件)：

G01N 23/207 , G01L 1/00 , G01L 1/25

引用特許：

審査官引用 (13件)

特開昭48-017782
X線断層撮影方法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-158121 出願人：株式会社日立製作所
鋼板の結晶粒度の評価方法及び評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-326825 出願人：新日本製鐵株式会社

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