特許

J-GLOBAL ID：200903001848009506

デバッグ回路のセキュリティを確保する方法及び装置

発明者： モイヤー、ウィリアム シー. ,  トカシク、トーマス イー.
出願人/特許権者： フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 桑垣 衛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-523198
公開番号（公開出願番号）：特表2007-502462
出願日： 2004年07月15日
公開日（公表日）： 2007年02月08日
要約：

本発明はデバッグ回路(20)に関し、特にデバッグ回路(20)のセキュリティを確保する方法及び装置に関する。一の実施形態では、複数の不揮発性素子(38)を使用して、デバッグ回路(20)の少なくとも一部を選択的にディスエーブルにし、そして再イネーブルする。認証も使用することができる。本発明は、IEEEが規定するJTAGデバッグインターフェースのような標準デバッグインターフェースを含むどのようなデバッグインターフェースも使用することができる。

請求項（抜粋）：

デバッグ回路のセキュリティを確保する方法であって、 デバッグ回路をイネーブルの状態にする工程と、 第1不揮発性素子に書き込みを行なってデバッグ回路をディスエーブルにする工程と、 第1不揮発性素子に書き込みを行なった後に第2不揮発性素子に書き込みを行なって、デバッグ回路を再イネーブルする操作およびデバッグ回路を永久的にディスエーブルにする操作の内の一つを実行する工程と、 からなる方法。

IPC (2件)：

G06F 11/28 ,  G06F 15/78

FI (3件)：

G06F11/28 L ,  G06F15/78 510K ,  G06F15/78 510Z

Fターム (8件)：

5B042GA13 ,  5B042GC02 ,  5B042HH01 ,  5B042HH50 ,  5B042JJ46 ,  5B062JJ05 ,  5B062JJ08 ,  5B062JJ10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許番号10/100,462
  

審査官引用 (4件)

• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-267951   出願人：株式会社日立製作所, 日立北海セミコンダクタ株式会社
• 情報処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-158256   出願人：株式会社東芝
• 半導体回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-216983   出願人：株式会社沖マイクロデザイン, 沖電気工業株式会社
• 電子装置及びそのデバッグ認証方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374649   出願人：富士通株式会社, 富士通フロンテック株式会社