特許
J-GLOBAL ID:200903001863476358

相分離の少ないIII族窒化物4元材料系を用いた半導体構造体および加工方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 興作 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-608483
公開番号(公開出願番号):特表2002-540638
出願日: 2000年03月01日
公開日(公表日): 2002年11月26日
要約:
【要約】レーザーダイオード、トランジスタおよび光検出器を含む半導体構造体に用いるIII族窒化物4元材料系および方法であって、相分離を低減または排除し、かつ発光効率を高めたものを開示する。例示的実施態様において、該半導体構造体は、第1の導電型の実質的に相分離のない第1のInGaAlN層、実質的に相分離のないInGaAlN活性層、および反対の導電型の実質的に相分離のない第2のInGaAlN層を含む。
請求項(抜粋):
半導体構造体であって、該半導体構造体が、 第1の導電型を有するInGaAlN材料からなる第1クラッド層、 InGaAlN活性層、および 第1の導電型と反対の導電型を有するInGaAlN材料からなる第2クラッド層を含み、相分離を最小限にするように各層の構成要素のモル比を選択した、半導体構造体。
Fターム (8件):
5F073AA13 ,  5F073AA74 ,  5F073BA06 ,  5F073CA17 ,  5F073CB02 ,  5F073DA05 ,  5F073EA17 ,  5F073EA23
引用特許:
審査官引用 (3件)
引用文献:
審査官引用 (1件)
  • Phase Separation in wurtzite In1-x-yGaxAlyN

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