特許
J-GLOBAL ID：200903002104399914
自動分析装置のサポートシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-000443
公開番号（公開出願番号）：特開2005-195401
出願日： 2004年01月05日
公開日（公表日）： 2005年07月21日
要約：
【課題】 画面構成、機構系ともに複雑化している自動分析装置の一連の操作において、操作上で分からない点があった場合に、その疑問に対して迅速かつ正確に回答できるサポートシステムを提供する。【解決手段】 試料中の成分を測定する分析部111と、前記分析部111に接続され、この分析部111に分析指示を与える操作部101と、前記操作部101に接続されたサービスセンターのサポート部135とを備え、前記操作部101からは、自動分析の一連の操作において、操作上で分からない点があった場合の問合せを電子情報として、前記サービスセンターのサポート部135に送信し、サービスセンターのサポート部135では、前記問合せの内容を解析して回答を作成し、問合せのあった前記操作部101に送信する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料中の成分を測定する分析部と、前記分析部に接続され、この分析部に分析指示を与える操作部と、前記操作部に接続されたサービスセンターのサポート部とを備え、前記操作部からは、自動分析の一連の操作において、操作上で分からない点があった場合の問合せを電子情報として、前記サービスセンターのサポート部に送信し、サービスセンターのサポート部では、前記問合せの内容を解析して回答を作成し、問合せのあった前記操作部に送信する手段を備えたことを特徴とする自動分析装置のサポートシステム。
IPC (1件)：
FI (3件)：
G01N35/00 Z
, G01N35/00 A
, G01N35/00 F
2G058CD04
, 2G058CE08
, 2G058GA03
, 2G058GE10
出願人引用 (1件)
審査官引用 (10件)
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