特許
J-GLOBAL ID：200903004171484520
流量式性能検査装置及び検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
渡辺 昇
, 原田 三十義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-301300
公開番号（公開出願番号）：特開2007-108102
出願日： 2005年10月17日
公開日（公表日）： 2007年04月26日
要約：
【課題】 検査対象の容積ごとに設定を変える必要の無い検査装置を提供する。【解決手段】 圧力制御弁2で設定したテスト圧を、圧導入路3Lを経て検査対象Wに導入する。圧導入路3Lは、第1分流路31と第2分流路32に分岐させ、加圧時は第1開閉弁V31を閉じて第2開閉弁V32を開き、その後、第1開閉弁V31を開いて第2開閉弁V32を閉じ、第1分流路31の流量計T31で流量測定を行なう。この測定流量に基づいて検査対象Wの漏れや流通性などの性能検査を行なう。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査対象の漏れ又は流通度から前記検査対象の性能検査を行なう装置であって、
圧力制御弁で設定したテスト圧を検査対象に導入する圧導入路と、
前記圧導入路に設けられた流量計と、
を備え、
前記テスト圧下における前記流量計の測定流量に基づいて前記性能検査を行なうことを特徴とする流量式性能検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G067AA24
, 2G067AA25
, 2G067BB02
, 2G067BB03
, 2G067BB04
, 2G067CC04
, 2G067DD04
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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