特許
J-GLOBAL ID：200903004301576928
ひずみの測定方法及び測定システム
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-357309
公開番号（公開出願番号）：特開2008-139273
出願日： 2006年12月20日
公開日（公表日）： 2008年06月19日
要約：
【課題】再帰反射性ビーズを有効に活用して、木材、金属材、樹脂材などのひずみ(変形)を簡便に測定できる方法を提供する。【解決手段】物体のひずみを測定するに当り、被測定物体の測定面に再帰反射性ビーズを均一に付着させ、当該付着面に光を照射して、その反射量をひずみの発生前と発生後とで対比することにより、ひずみを測定する。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
物体のひずみを測定するに当り、被測定物体の表面に再帰反射性ビーズを均一に付着させ、その面に光を照射して、該再帰反射性ビーズからの反射光の変化を調べることにより、ひずみを測定することを特徴とするひずみの測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2F065AA58
, 2F065AA65
, 2F065DD03
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065FF44
, 2F065HH13
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL18
, 2F065QQ31
, 2F065SS13
