特許
J-GLOBAL ID：200903006227327921
電磁波発生源探査装置、その方法およびその解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-117028
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304790
出願日： 1999年04月23日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：
【要約】【課題】装置遠方での電磁界強度を規制値以下に抑えるために、装置遠方での電磁界を発生させる主要因となる(電磁妨害波)の発生源を高精度に、且つ高速度で探査して特定できるようにした電磁波発生源探査装置およびその方法並びに電磁波発生源解析システムおよびその方法を提供することにある。【解決手段】本発明は、被測定対象110の近傍の磁界を少なくとも2つ以上設けたプローブセット101、102で測定し、この2つのプローブの位相差を用いた1つの関数からなる簡単な計算で電磁波発生源の位置を探査し、この位置情報と測定磁界の大きさを含めた連立方程式を解くことで、被測定対象上の電流分布を求め、この電流分布から装置遠方での電磁界を計算により求めることで、装置遠方での電磁界を発生させる主要因となる発生源を特定することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
電子機器の被測定対象から発生する電磁界の強度を、被測定対象の近傍における被測定対象平面に沿って2次元的に変化する測定位置の各々において測定する複数のプローブと、該複数のプローブの各々で上記各測定位置において測定された電磁界の強度から上記プローブ間の磁界の位相差または時間差を算出し、該各測定位置においてこの算出された位相差または時間差を基に上記複数のプローブの被測定対象に対する幾何学的な関係から被測定対象平面上における推定される電磁波発生源の軌跡を求め、この求められた複数の測定位置における推定される電磁波発生源の軌跡の交点を探査することによって被測定対象に存在する電磁波発生源の位置を算出して特定する計算手段とを備えたことを特徴とする電磁波発生源探査装置。
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 29/08 Z
