特許
J-GLOBAL ID：200903006282459055
中空糸モジュールの検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-053541
公開番号（公開出願番号）：特開平7-005113
出願日： 1994年03月24日
公開日（公表日）： 1995年01月10日
要約：
【要約】【目的】 中空糸モジュールにおける樹脂剤層の端面に生じた気泡跡等の凹部DPを高い精度で検出することを目的とする。【構成】 樹脂剤層C1 の端面C11に設定したスリット状照射部に、光照射装置2によりスリット光を照射し、前記スリット状照射部での前記スリット光の反射光を入射する測光装置3により、前記スリット状照射部に対応する入射領域内に設定したウィンドゥ内の輝度を画素ごとに測定する。前記スリット光の光強度は、前記ウィンドゥ内の少なくとも一部の画素の輝度が飽和し始める時点の光強度の1〜4倍の範囲とする。前記画素ごとの輝度を2値化処理部403で2値化することにより、前記端面C11に生じた気泡跡等による凹部DPを検出する。【効果】 樹脂剤層の端面に生じた凹部を光学的手段により精度よく検出することができる。
請求項（抜粋）：
複数の中空糸の端部を樹脂剤により固めた樹脂剤層を有する中空糸モジュールについて前記樹脂剤層の端面に生じた欠陥を検出するための中空糸モジュールの検査装置であって、前記中空糸モジュールを支持する支持手段と、前記樹脂剤層の端面上に設定したスリット状の被照射領域に、前記端面に非直交で入射するスリット光を照射する光照射手段と、前記端面に対する被照射領域の位置を相対的に移動させる移動手段と、前記被照射領域に対応する端面で反射した前記スリット光の反射光が入射する位置で、前記被照射領域に対応する端面の画像について画素ごとの光量を測定し、かつ、前記被照射領域の画像内に設定したウィンドゥ内の画像に関する前記測光量を出力する測光手段と、前記測光手段が出力した画素ごとの測光量を所定の閾値で2値化し、この2値化信号を出力する2値化処理手段と、を備え、かつ、前記光照射手段が照射するスリット光による被照射領域の幅が画素の大きさの10〜150倍であって、前記測光手段において測定する画素ごとの測光量が少なくとも一部の画素において飽和し始める時点の強度の1〜4倍の範囲に設定されていること、を特徴とする中空糸モジュールの検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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