変位測定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：井島藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-236600
公開番号（公開出願番号）：特開2001-059721
出願日： 1999年08月24日
公開日（公表日）： 2001年03月06日
要約：

【要約】【課題】光の反射率が悪いカードでもカード上のエンボスを正確に読み取ることができる変位測定装置を提供することを課題とする。【解決手段】凸部又は凹部によってキャラクタが表面上に形成されたカード107上でカード107の表面に対して交差する方向に設けられた遮光板(手段)90と、遮光板90の一方の側に設けられ、カード107へ線状の光を照射する光照射手段100と、遮光板90の他方の側に設けられ、カード107表面での正反射光、拡散光のうち少なくとも一方を受ける受光手段120と、線状の光の線方向と交差する方向にカード107、光照射手段の100うち少なくとも一方を搬送する搬送手段110とで構成する。

請求項（抜粋）：

凸部又は凹部によってキャラクタが表面上に形成されたカード上で前記カードの表面に対して交差する方向に設けられた遮光手段と、該遮光手段の一方の側に設けられ、前記カードへ線状の光を照射する光照射手段と、前記遮光手段の他方の側に設けられ、前記カード表面での正反射光、拡散光のうち少なくとも一方を受ける受光手段と、前記線状の光の線方向と交差する方向に前記カード、前記光照射手段のうち少なくとも一方を搬送する搬送手段と、を有することを特徴とする変位測定装置。

IPC (4件)：

G01B 21/20 , G01B 11/24 , G06T 1/00 , G06K 9/20 360

FI (4件)：

G01B 21/20 C , G06K 9/20 360 B , G01B 11/24 A , G06F 15/64 320 C

Fターム (41件)：

2F065AA54 , 2F065BB02 , 2F065DD09 , 2F065DD11 , 2F065FF01 , 2F065FF41 , 2F065GG06 , 2F065HH03 , 2F065HH04 , 2F065JJ01 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ16 , 2F065JJ24 , 2F065LL04 , 2F065LL08 , 2F065LL10 , 2F065LL30 , 2F065LL46 , 2F065MM03 , 2F065NN02 , 2F065PP15 , 2F065QQ00 , 2F065QQ01 , 2F065QQ05 , 2F065QQ21 , 2F069AA63 , 2F069AA66 , 2F069BB40 , 2F069GG07 , 2F069GG58 , 2F069GG62 , 2F069GG63 , 2F069GG65 , 2F069HH30 , 2F069JJ13 , 5B029AA05 , 5B029BB02 , 5B029BB08 , 5B047AA30 , 5B047BC05

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-070505
表面欠陥検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-182541 出願人：富士通株式会社
2次元配列型共焦点光学装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-294976 出願人：株式会社高岳製作所

全件表示

前のページに戻る