特許
J-GLOBAL ID：200903007273714057
バックラッシュシムの選択方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-056714
公開番号（公開出願番号）：特開平10-252872
出願日： 1997年03月11日
公開日（公表日）： 1998年09月22日
要約：
【要約】【課題】高精度な測定をすることができ、測定が簡単で測定時間を短縮することが可能で、適正なバックラッシュを有するベベルギア機構を得ることができるバックラッシュシムの選択方法およびその装置を提供する。【解決手段】レーザ光投光部12の発光素子14からレーザ光を照射し、ベベルギア70の軸部71によって陰となる長さをレーザ光受光部16の受光素子で測定することによって前記軸部71の直径を測定する。一方、一対の測定子22a、22bを円錐ころ軸受72の内周に当接させ、この測定子22a、22bによって前記レーザ光が遮光される部分の長さを前記レーザ光受光部16で測定することによって前記円錐ころ軸受72の内径を測定する。前記軸部71の直径と前記円錐ころ軸受72の内径との差である圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受72にベベルギア70が圧入されたときの軸線方向の伸びを求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを得る。
請求項（抜粋）：
円錐ころ軸受の内径と、前記円錐ころ軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径を測定する工程と、前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差である圧入代を求める工程と、前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求める工程と、前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを得る工程と、前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを得る工程と、予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムを選択して前記ベベルギア機構に取り付ける工程と、を有することを特徴とするバックラッシュシムの選択方法。
IPC (4件)：
F16H 57/12
, G01B 11/08
, G01M 13/02
, F16H 1/12
F16H 57/12 Z
, G01B 11/08 Z
, G01M 13/02
, F16H 1/12
