特許
J-GLOBAL ID:200903007833806092

エキシマレーザとその検査装置及びその検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 橋爪 良彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-013271
公開番号(公開出願番号):特開平11-201869
出願日: 1998年01月08日
公開日(公表日): 1999年07月30日
要約:
【要約】【課題】 エキシマレーザの光品位を、短時間でしかも正確に検査するための検査装置を提供する。【解決手段】 エキシマレーザ16の光品位を検査するために、エキシマレーザ16の筐体17内に検査装置18を設置するための空間30及び検査装置18の位置決め手段49を設け、検査装置18を各検査項目を検査するための着脱自在な検査ユニット及びレーザ光3を各検査ユニットに導くためのビーム切り出しユニット44から構成し、これを前記空間30に挿入して検査を行なう。
請求項(抜粋):
発振するレーザ光(3) の光品位が検査されるエキシマレーザ(16)において、前記エキシマレーザ(16)の筐体(17)内に、エキシマレーザ(16)の性能を検査する検査装置(18)、又はエキシマレーザ(16)のビームを前記検査装置(18)に導くためのビーム切り出しユニット(44)を挿入する空間(30)を設けたことを特徴とするエキシマレーザ(16)。
IPC (3件):
G01M 11/00 ,  H01S 3/00 ,  H01S 3/225
FI (3件):
G01M 11/00 T ,  H01S 3/00 G ,  H01S 3/223 E
引用特許:
審査官引用 (3件)

前のページに戻る