特許
J-GLOBAL ID:200903009289093870

光断層画像化装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-311286
公開番号(公開出願番号):特開2008-128708
出願日: 2006年11月17日
公開日(公表日): 2008年06月05日
要約:
【課題】光断層画像化装置において、高速に高分解能の断層画像を取得する。【解決手段】光源ユニット10から、互いに波長が異なるとともに、同一の時間帯にそれぞれ所定の波長帯域内で波長が変化する複数の光束La、Lbが射出される。光分割手段3は光束La、Lbをそれぞれ測定光L1a、L1bと参照光L2a、L2bとに分割する。合波手段4a、4bは測定光L1a、L1bが測定対象Sに照射されたときの反射光L3a、L3bと参照光L2a、L2bとを各光束ごとにそれぞれ合波する。合分波手段5は、波長域に応じて光束の進行方向を制御し、測定光L1a、L1bを合波し、反射光L3a、L3bを分波する。干渉光検出手段40a、40bは上記合波により生ずる干渉光L4a、L4bを干渉信号ISa、ISbとして各光束ごとに検出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
互いに波長が異なるとともに、同一の時間帯にそれぞれ所定の波長帯域内で波長が変化する複数の光束を射出する光源ユニットと、 該光源ユニットから射出された前記各光束をそれぞれ測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 該分割手段により分割された複数の前記測定光が測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と前記参照光とを前記各光束ごとにそれぞれ合波する合波手段と、 該合波手段により前記反射光と前記参照光とが合波されたときに生ずる複数の干渉光を干渉信号として前記各光束ごとに検出する複数の干渉光検出手段と、 該干渉光検出手段により検出された複数の前記干渉信号を用いて前記測定対象の断層画像を生成する断層画像処理手段と を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (3件):
G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  A61B 1/00
FI (3件):
G01N21/17 625 ,  A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D
Fターム (37件):
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059LL02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059NN01 ,  4C061AA00 ,  4C061BB05 ,  4C061CC07 ,  4C061DD00 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061LL01 ,  4C061MM10 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061PP11 ,  4C061QQ01 ,  4C061SS21 ,  4C061VV01
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (9件)
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