特許
J-GLOBAL ID：200903010580752277

露光制御付きX線診断装置

発明者：
ピーター エル アーフィンク

ピーター エル アーフィンク について

, 
アンドリース ファーバー

アンドリース ファーバー について

, 
ヨハネス ハー エム ヨーステン

ヨハネス ハー エム ヨーステン について


出願人/特許権者：
コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ

コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ について


代理人 (1件)： 杉村 興作 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-540572
公開番号（公開出願番号）：特表2003-515366
出願日： 2000年10月30日
公開日（公表日）： 2003年05月07日
要約：
【要約】X線診断装置は、X線源と、X線検出器と、露光制御系とを具えている。露光制御系は、低いX線線量でテスト露光を行い、且つ高いX線線量でX線露光を行うようにX線源を制御すべく構成する。X線検出器はテスト露光に由来する制御信号を露光制御系に供給し、X線源はこの制御信号に基づいて調整される。X線露光はX線イメージを発生し、X線検出器はこのX線イメージを表すイメージ信号を供給する。露光制御系は、テスト露光中はX線検出器を低い空間分解能に、X線露光中は高い空間分解能にそれぞれ調整すべく構成する。X線検出器には、行列配置したセンサ素子を有するセンサマトリックスを含めるのが好適である。空間分解能は、センサ素子の大きなグループと小さなグループとからそれぞれ制御信号及びイメージ信号を得ることによって調整される。
請求項（抜粋）：
-X線源と、 -X線検出器と、 -前記X線源及び前記X線検出器を制御する露光制御系とを具えており、前記露光制御系が、 -低いX線線量でテスト露光を行うと共に、前記X線検出器によって制御信号を発生するように前記X線源を制御し、且つ -高いX線線量でX線露光を行うと共に、この露光中に前記X線検出器によってX線イメージを取得するために、前記制御信号に基づいて前記X線源を制御すべく、構成されるようにしたX線診断装置において、 -前記テスト露光の実行中には前記X線検出器の空間分解能を粗く調整し、且つ -前記X線露光の実行中には前記X線検出器の空間分解能を細密に調整すべく、前記露光制御系を構成するようにしたことを特徴とするX線診断装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 320 ,  H05G 1/38
FI (2件)：
A61B 6/00 320 Z ,  H05G 1/38
Fターム (25件)：
4C092AA01 ,  4C092AB13 ,  4C092AC01 ,  4C092CC03 ,  4C092CD04 ,  4C092CD09 ,  4C092CE14 ,  4C092CF06 ,  4C092CF25 ,  4C092CF47 ,  4C092CJ17 ,  4C092DD10 ,  4C093AA01 ,  4C093AA16 ,  4C093CA26 ,  4C093CA30 ,  4C093CA39 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA18 ,  4C093FA45 ,  4C093FA52 ,  4C093FA59 ,  4C093FC17
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM