半導体装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊東忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-043994
公開番号（公開出願番号）：特開平11-242068
出願日： 1998年02月25日
公開日（公表日）： 1999年09月07日
要約：

【要約】【課題】本発明は、テスト結果を出力するデータバス以外のデータバスが動作する電流消費条件の下でも、動作テストを実行可能な半導体装置を提供することを目的とする。【解決手段】通常動作モードで複数のデータ端子を使用してデータを出力し、テスト動作モードで複数のデータ端子のうちの少なくとも一つのデータ端子からテスト結果を出力する半導体装置は、複数のデータ端子に対応してデータを伝送する複数のデータバス線と、テスト動作モードの第1の状態においては少なくとも一つのデータ端子に対応するデータバス線のみを駆動状態にし、テスト動作モードの第2の状態においては複数のデータ端子に対応する複数のデータバス線全てを駆動状態にするデータバススイッチを含む。

請求項（抜粋）：

通常動作モードで複数のデータ端子を使用してデータを出力し、テスト動作モードで該複数のデータ端子のうちの少なくとも一つのデータ端子からテスト結果を出力する半導体装置であって、該複数のデータ端子に対応して該データを伝送する複数のデータバス線と、該テスト動作モードの第1の状態においては該少なくとも一つのデータ端子に対応するデータバス線のみを駆動状態にし、該テスト動作モードの第2の状態においては該複数のデータ端子に対応する該複数のデータバス線全てを駆動状態にするデータバススイッチを含むことを特徴とする半導体装置。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G11C 11/407 , G11C 11/401 , G11C 29/00 671

FI (5件)：

G01R 31/28 V , G11C 29/00 671 P , G11C 11/34 354 C , G11C 11/34 371 A , G11C 11/34 371 K

引用特許：

審査官引用 (3件)

半導体記憶装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-261727 出願人：三菱電機株式会社
半導体記憶装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-075667 出願人：三洋電機株式会社
半導体装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-040213 出願人：日本電気株式会社

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