特許
J-GLOBAL ID：200903011779568714
温度試験装置の制御方法およびその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
谷 義一
, 阿部 和夫
, 橋本 傳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-288756
公開番号（公開出願番号）：特開2004-125243
出願日： 2002年10月01日
公開日（公表日）： 2004年04月22日
要約：
【課題】消費電力を増大することなしに、速やかに設定温度に到達し、精度よく設定温度を保持する。【解決手段】冷凍機の蒸発器の出口及び入口に装着した温度センサ41,42からの信号に基づいて算出された測定過熱度と、予め設定された設定過熱度とを比較して、冷凍機の電子膨張弁32の第1弁開度を算出する過熱度制御部52と、試験庫内部に装着した温度センサ43からの信号に基づいて検出された庫内温度と、予め設定された庫内温度とを比較して、電子膨張弁32の第2弁開度を算出するヒータ制御部54とを備え、ヒータ制御部54は、ヒータ20を制御し、過熱度制御部52は、測定過熱度と設定過熱度の差分が所定の範囲内で、かつ、第2弁開度が所定の範囲内である場合に第1弁開度を、それ以外の場合に第2弁開度を電子膨張弁32に出力する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
試験庫内部を冷却する冷凍機と、前記試験庫内部を加熱するヒータと、前記冷凍機及び前記ヒータに接続され、前記試験庫内部の温度を制御する制御部とを有する温度試験装置の制御方法において、前記制御部は、
前記冷凍機の蒸発器の出口及び入口に装着した温度センサからの信号に基づいて算出された測定過熱度と、予め設定された設定過熱度とを比較して、前記冷凍機の電子膨張弁の第1弁開度を算出する過熱度制御ステップと、
前記試験庫内部に装着した温度センサからの信号に基づいて検出された庫内温度と、予め設定された庫内温度とを比較して、前記電子膨張弁の第2弁開度を算出する温調制御ステップと、
前記検出された庫内温度と前記予め設定された庫内温度とを比較して、前記ヒータを制御するヒータ制御ステップと、
前記測定過熱度と前記設定過熱度の差分が所定の範囲内で、かつ、前記第2弁開度が所定の範囲内である場合に前記第2弁開度を、それ以外の場合に前記第1弁開度を前記電子膨張弁に出力する弁制御ステップと
を実行することを特徴とする温度試験装置の制御方法。
IPC (3件)：
F25D11/00
, F25B1/00
, F25B49/02
F25D11/00 101B
, F25B1/00 101E
, F25B1/00 101H
, F25B1/00 304A
, F25B49/02 A
3L045AA03
, 3L045BA08
, 3L045CA02
, 3L045DA02
, 3L045HA01
, 3L045JA03
, 3L045JA13
, 3L045LA13
, 3L045MA04
, 3L045NA23
, 3L045PA01
, 3L045PA02
, 3L045PA03
