特許
J-GLOBAL ID:200903011828393810
ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (5件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 柳井 則子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-351701
公開番号(公開出願番号):特開2005-234534
出願日: 2004年12月03日
公開日(公表日): 2005年09月02日
要約:
【課題】 露光量マージンが高く、解像性、ドライエッチング耐性にも優れたポジ型レジスト組成物、および該ポジ型レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。【解決手段】 酸解離性溶解抑制基を有し、酸の作用によりアルカリ可溶性が増大する樹脂成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)とを含むポジ型レジスト組成物であって、前記樹脂成分(A)が、下記一般式(I)で表される構成単位(a1)と、前記一般式(I)の水酸基が、その水素原子が下記一般式(II)で表される酸解離性溶解抑制基(II)により置換されることによって保護されている構成単位(a2)と、前記一般式(I)の水酸基が、その水素原子が非環式の酸解離性溶解抑制基(III)により置換されることによって保護されている構成単位(a3)とを有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。【化1】【化2】【選択図】 なし
請求項(抜粋):
酸解離性溶解抑制基を有し、酸の作用によりアルカリ可溶性が増大する樹脂成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)とを含むポジ型レジスト組成物であって、
前記樹脂成分(A)が、下記一般式(I)
IPC (3件):
G03F7/039
, G03F7/033
, H01L21/027
FI (3件):
G03F7/039 601
, G03F7/033
, H01L21/30 502R
Fターム (19件):
2H025AA02
, 2H025AA09
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE07
, 2H025BE10
, 2H025BG00
, 2H025CB16
, 2H025CB17
, 2H025CB41
, 2H025CB45
, 2H025CB55
, 2H025CB56
, 2H025CC20
, 2H025FA10
, 2H025FA17
引用特許: