特許
J-GLOBAL ID：200903012010210287

増強ナノ分光学的走査のための方法および装置

発明者：
ポポニン, ブラディミール

ポポニン, ブラディミール について


出願人/特許権者：
ブイピー ホールディング, エルエルシー

ブイピー ホールディング, エルエルシー について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-509733
公開番号（公開出願番号）：特表2006-526779
出願日： 2004年04月05日
公開日（公表日）： 2006年11月24日
要約：
サンプル(82)中の化学基の同一性を調べるための装置および方法が開示される。この装置(35)は、サンプル(82)が支持されているプラズモン共鳴表面を有する基板(80)、光ビーム源、ならびにチップ領域およびナノレンズ(62)を有するレンズアセンブリを有し、このナノレンズ(62)は、そのチップ領域上の1つ以上のプラズモン共鳴粒子(PRP)からなる。このPRPは、ナノレンズ(62)と基板(80)との間のギャップが30nm以下の場合に、ナノレンズ(62)と基板表面(80)上の直面する検出領域との間の空間に近距離場電磁ギャップモードを生ずるように配置される。この装置における焦点合わせ機構が作動し、30nm未満のギャップで基板表面(80)に向けておよび離してレンズアセンブリを動かし、検出領域におけるサンプル(82)により生じたラマン分光学シグナルを高める電磁ギャップモードを生じる。
請求項（抜粋）：
表面に付着されたサンプル中の化学基の同一性を調べるための装置であって、該装置は、以下: 該サンプルが支持されている鏡表面を有する基板であって、そして該鏡表面は、プラズモン共鳴金属から形成されている、基板、 光ビーム源、 チップ領域およびナノレンズを有するレンズアセンブリであって、該ナノレンズは、該チップ領域上に配置された1つ以上のプラズモン共鳴粒子から構成され、そして該プラズモン共鳴粒子は、光ビームがナノレンズを通って方向付けられる場合、該ナノレンズと該基板表面上の直面する検出領域との間の空間中の、40nm以下である、該ナノレンズと基板との間のギャップに近距離場電磁ギャップモードを生じるように該チップ領域上に配置される、レンズアセンブリ、 40nm未満のギャップで、該基板表面に向けてかつ該基板表面から離して該レンズアセンブリを動かすための焦点合わせ機構であって、該検出領域における該サンプルにより生じたラマン分光シグナルを増強する電磁ギャップモードを生じる、焦点合わせ機構; 該検出領域における該サンプルから放出または散乱された光を受け取るための、かつ受け取った光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換するための検出器であって、これによって、該検出領域における該サンプルの化学基が同定され得る、検出器、ならびに 該基板に対してレンズアセンブリを移動させるための移動機構であって、該レンズアセンブリを該基板の異なる検出領域上に位置させる、移動機構、 を備える、装置。
IPC (6件)：
G01N 21/27 ,  B82B 1/00 ,  G01N 13/10 ,  G01N 21/65 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/21
FI (6件)：
G01N21/27 C ,  B82B1/00 ,  G01N13/10 H ,  G01N21/65 ,  G01N21/64 G ,  G01N21/21 Z
Fターム (40件)：
2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043EA04 ,  2G043FA02 ,  2G043GA03 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL02 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024CA01 ,  4B024CA11 ,  4B024HA12 ,  4B024HA19 ,  4B029AA07 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029CC13 ,  4B029FA15
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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