高周波回路板を検査するための同軸チルトピン治具

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：青木篤 , 鶴田準一 , 島田哲郎 , 西山雅也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-534925
公開番号（公開出願番号）：特表2005-504991
出願日： 2001年10月10日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：

高周波または高速デジタル回路板を検査するのに使用する伝達治具に関する。伝達治具は、ピン支持頂部プレート(26)と、基部プレート(32)と、検査分析器から検査中の回路板(16)までの信号経路を提供するように伝達治具に組み込まれるインピーダンスが一定な同軸検査ピン(23)とを有する。検査中の回路板は頂部プレートの上面に接続される。同軸ピンのインピーダンスは検査中の回路板のインピーダンスおよび検査分析器のインピーダンスに整合せしめられる。同軸ピンに加えられる力は、ピンが検査中の回路板の検査点と確実に接触するようにする。この力は、基部プレートの下方のコンプライアント検査インターフェイス(10)に取付けられたバネ荷重プローブ(12)によって加えられる。あるいは、上記力は、検査中の回路板と、基部プレートまたは検査分析器に接続された第二回路板との相対移動によりピンがオイラー座屈することによって加えられる。

請求項（抜粋）：

高周波で検査すべき回路板を、高周波検査信号を提供する検査分析装置に接続する伝達治具において、上記検査すべき回路板と接続する頂部プレートと、高周波検査信号のソースを提供する検査分析装置と接続する基部プレートと、上記頂部プレートおよび上記基部プレートによって支持される複数の同軸検査ピンとを具備し、各検査ピンは中心中実ピンを具備し、各中心ピンは上記頂部プレートに延びる第一端部と上記基部プレートに延びる第二端部とを有すると共に上記検査分析装置から上記回路板上の検査点までの検査信号経路を提供し、上記同軸検査ピンが同一のインピーダンスを有することで、高周波で上記回路板を効果的に検査するのに十分な程度にインピーダンスの整合させるのが容易となる伝達治具。

IPC (2件)：

G01R31/28 , G01R1/06

FI (2件)：

G01R31/28 K , G01R1/06 E

Fターム (16件)：

2G011AA02 , 2G011AA16 , 2G011AA22 , 2G011AB01 , 2G011AC14 , 2G011AC32 , 2G011AD01 , 2G011AE01 , 2G011AF07 , 2G132AA00 , 2G132AE11 , 2G132AF02 , 2G132AF07 , 2G132AG01 , 2G132AL03 , 2G132AL18

引用特許：

審査官引用 (5件)

プローブ構造
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-148551 出願人：日本エー・エム・ピー株式会社
特開平4-278476
電気回路テスト用プローブ
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-075550 出願人：桐原鍍金工業株式会社

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