特許
J-GLOBAL ID:200903012412395321
テスト出題装置、とテスト出題方法およびプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (4件):
宮崎 昭夫
, 石橋 政幸
, 岩田 慎一
, 緒方 雅昭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-290123
公開番号(公開出願番号):特開2006-079113
出願日: 2005年10月03日
公開日(公表日): 2006年03月23日
要約:
【課題】学習者が誤答となった設問の類題、誤答となった設問を理解するために必要な下位の学習要素にさかのぼって選択することを可能とし、設問の提示の際に、利用者の判断に頼ることなく、自動的に設問の選択を行い、学習者へ提示することを可能とする。【解決手段】学習者管理11、成績管理12、教材構造チャート13、設問選択14および設問提示15の各サブシステムをプログラムで実行するデータ処理装置1と、学習者の氏名、住所等の情報を記憶する学習者データ記憶部21、学習する各学習領域の属性、各学習領域に含まれる複数の学習要素の属性等を記憶する教材構造チャート記憶部22、学習者の正誤情報、学習履歴情報等を記憶する学習履歴データ記憶部23および設問本文、解答、解説、指導者マニュアル、設問の属性等を記憶する設問データ記憶部24を具有する記憶装置2及び入出力装置3、4とを具備する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
学習者管理サブシステム、成績管理サブシステム、教材構造チャートサブシステム、設問選択サブシステムおよび設問提示サブシステムをプログラムで実行するデ一タ処理装置と、
学習者の氏名、住所、などの情報を記憶するための学習者データ記憶部、学習する各学習領域の属性、各学習領域に含まれる複数の学習要素の属性などを記憶するための教材構造チャート記憶部、学習者の正誤情報、学習履歴情報などを記憶するための学習履歴データ記憶部および設問本文、解答、解説、指導者マニュアル、設問の属性などを記憶するための設問データ記憶部を具有する記憶装置と、入力装置および出力装置とを具備し、
学習者が学習する学習領域に含まれる複数の学習要素に対して、その相関関係等の様々な属性を付加し、それらを構造的にデータベース化した教材構造チャートと、学習者の過去の成績、学習履歴などを利用し、学習者の過去の学習履歴から学習領域内の各学習要素の習得状態を計算によって定量的に求めたり、構造化された学習要素間の相関関係を利用して他の学習要素の習得状態から当該学習要素の習得状態の推定などを行い、最適な次学習要素を自動的に選択し、設問データからその学習要素に対応する適切な設問を選択してテストを出題するテスト出題装置であって、
前記学習要素の属性は、学習要素名称、学習要素ID、要素習得順、上位要素ID、上位または下位の学習要素との関連の強弱を複数の段階で表した要素間強度、下位要素ID、要素グループID、当該学習要素を習得済みとみなすための計算上のしきい値である合格係数、当該学習要素を未習得とみなすための計算上のしきい値である不合格係数、当該学習要素の直接下位にあたる学習要素同士の関係を表す相関関係等からなり、
前記教材構造チャートは、当該教材構造チャートに含まれる学習要素とそれらの諸属性値、教材構造チャートを利用して出題されたテストを学習者が終了するのに必要とする標準解答時間、当該教材構造チャート内のある学習要素に対して学習者が誤答となった場合に次回のテストにおいて同一の学習要素を再提示する回数の上限である連続出題回数、特定の学習要素において、ある難易度の設問は誤答であるが1段階難易度を下げた設問は正答または未学習であるという状況時に同一の学習要素で難易度の異なる設問を提示する回数の上限である難易度間往復回数等からなり、前記上位要素IDおよび下位要素IDは、各学習要素の上位または下位要素がある場合にそれを検索可能なように前記教材構造チャート記憶部に記憶されており、当該教材構造チャートの特定の学習要素に関連づけられ設問データ記憶部に記憶されている設問ファイルは、当該学習要素の下位学習要素で問われている要素を全て含んだ形で作成されており、
前記設問選択サブシステムサブシステムは、前記成績管理サブシステムを利用して入力装置より入力された学習者の学習履歴を基に次学習要素を選択するために、過去の学習履歴を基に、習得度を表す習得度計数を計算し、既定の規則に従い前記教材構造チャート記憶部を検索して学習要素を決定し、決定した学習要素に対応する設問ファイルを前記設問データ記憶部から検索し、
前記設問提示サブシステムは、前記設問選択サブシステムで検索された前記設問ファイル内の設問を自動的にレイアウトして学習者に対して提示することを特徴とするテスト出題装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (6件):
2C028AA00
, 2C028BA01
, 2C028BB04
, 2C028BC01
, 2C028BC02
, 2C028BD03
引用特許:
審査官引用 (8件)
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特開平4-301874
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特開昭63-106066
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問題作成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-308013
出願人:株式会社学習研究社
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テスト出題装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-301892
出願人:日本電気株式会社, 株式会社市進
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学習問題の作成及び学習成績の処理システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-192511
出願人:吉備システム株式会社
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電子学習機
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-002641
出願人:ブラザー工業株式会社
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プログラム教育方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-322370
出願人:山本哲也
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特開平4-357549
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