特許
J-GLOBAL ID：200903013092121909
放射線断層撮影方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-115399
公開番号（公開出願番号）：特開平10-305027
出願日： 1997年05月06日
公開日（公表日）： 1998年11月17日
要約：
【要約】【課題】 1回の撮影でスライス厚の異なる複数の断層像を撮影する放射線断層撮影方法および装置を実現する。【解決手段】 広がりと厚みを持つ放射線ビーム40による被検体の投影像を検出器アレイ240,242により放射線ビームの厚み方向において分割し、それぞれの投影データを複数のビュー方向で測定し、分割した投影像の各々に関する投影データと分割した投影像の全てに関する投影データとに基づいてそれぞれ断層像を生成する。
請求項（抜粋）：
広がりと厚みを持つ放射線ビームによる被検体の投影像を前記放射線ビームの厚み方向において分割してそれぞれの投影データを複数のビュー方向で測定し、前記分割した投影像の各々に関する投影データと前記分割した投影像の全てに関する投影データとに基づいてそれぞれ断層像を生成する、ことを特徴とする放射線断層撮影方法。
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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