特許

J-GLOBAL ID：200903013376853284

分析装置及び記憶媒体並びに分析方法

発明者： 山岸 康男
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-222006
公開番号（公開出願番号）：特開2006-038757
出願日： 2004年07月29日
公開日（公表日）： 2006年02月09日
要約：

【課題】 本発明の課題は、購入または販売する材料や部品中の有害元素の有無を蛍光X線によって分析する分析装置に係り、特に、材料に関する専門的知識を必要とすることなく、有害物質の有無を効率的に検査可能とする分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】 上記課題は、元素を測定する測定器と、 製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有する分析装置によって達成される。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

元素を測定する測定器と、 製品の構成素材毎に、該構成素材に含まれる元素の使用実態に基づく含有可能性の度合いを対応させたデータ構成による第一の対応表と、 所定濃度以上を含有する可能性の度合いを示す構成素材に含まれる元素毎に、分析方法と測定条件とを対応付けたデータ構成による第二の対応表と、 前記分析方法に対応するプログラムを実行することによって、前記測定条件に従って前記測定器に前記元素を測定させて分析をする分析手段とを有することを特徴とする分析装置。

IPC (2件)：

G01N 23/223 ,  G01N 35/00

FI (2件)：

G01N23/223 ,  G01N35/00 E

Fターム (23件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA06 ,  2G001FA12 ,  2G001GA01 ,  2G001JA17 ,  2G001KA01 ,  2G001LA02 ,  2G001LA05 ,  2G001LA06 ,  2G001MA05 ,  2G001NA10 ,  2G001NA11 ,  2G001NA12 ,  2G001NA17 ,  2G058AA05 ,  2G058GA20 ,  2G058GD03 ,  2G058GD05 ,  2G058GD07 ,  2G058GE02 ,  2G058GE06

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 自動分析システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-064154   出願人：日本碍子株式会社
• 製品含有化学物質管理システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-059673   出願人：株式会社日立製作所

審査官引用 (2件)

• 蛍光X線分析方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-235486   出願人：理学電機工業株式会社
• 蛍光X線分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-293478   出願人：理学電機工業株式会社