光断層画像の処理方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：光田敦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-216335
公開番号（公開出願番号）：特開2008-039651
出願日： 2006年08月09日
公開日（公表日）： 2008年02月21日
要約：

【課題】補償光学やモーショントラックなどの複雑な追加システムを用いず、3次元計測データのみを用いて被計測物体の動きによる3次元画像の歪みを補正する方法を実現する。また、歪み補正された画像から、層構造を自動的に抽出し、それぞれの層構造中に存在する構造物を分離計測、表示する方法を実現する。【解決手段】光コヒーレンストモグラフィー1を用いて、被計測物体8の奥行き方向の軸に平行な2次元断層画像を構成する、あるいは、該2次元断層画像に垂直方向に位置をずらしながら複数取得し3次元画像を構成する光コヒーレンストモグラフィー1による光断層画像化法において、被計測物体8jの移動ぶれに起因するドップラー信号を検出し、この検出結果に基づいて2次元断層画像の位置ずれの補正を行い、3次元画像、または、3次元画像を再構成することで、被計測物体8の移動による光コヒーレンストモグラフィーの光断層画像の歪みを補正する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光コヒーレンストモグラフィーを用いて、被計測物体の奥行き方向の軸(Aスキャン軸)に垂直方向(Bスキャン方向)に位置をずらしながら複数の1次元断層画像を取得して被計測物体の奥行き方向の軸に平行な2次元断層画像(Bスキャン画像)を取得し、さらに、該2次元断層画像に垂直方向(Cスキャン方向)に位置をずらしながら複数2次元断層画像を取得し3次元画像を構成する光コヒーレンストモグラフィーによる光断層画像化法において、前記被計測物体の移動ぶれに起因する前記複数の1次元断層画像の位置ずれを、ドップラー信号情報を用いて検出し、該検出結果に基づいて1次元断層画像の位置ずれの補正を行い、前記2次元断層画像を再構成して、光コヒーレンストモグラフィーの光断層画像化法における被計測物体の移動による画像の歪みを補正することを特徴とする光断層画像の処理方法。

IPC (2件)：

G01N 21/17 , G01N 21/39

FI (2件)：

G01N21/17 620 , G01N21/39

Fターム (14件)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059FF01 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059KK01 , 2G059KK04 , 2G059NN06

引用特許：

出願人引用 (8件)

光コヒーレンストモグラフィーにおける透光体の動きによる高速光遅延発生方法及びその高速光遅延発生装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-114895 出願人：科学技術振興事業団, エムテックスマツムラ株式会社
スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-082817 出願人：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
偏光感受型光スペクトル干渉コヒーレンストモグラフィー装置及び該装置による試料内部の偏光情報の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-217274 出願人：株式会社筑波リエゾン研究所

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審査官引用 (5件)

光学コヒーレンス断層撮影法を使用して試料中の少なくとも1つの位置を決定するための方法、システムおよびソフトウェア装置
公報種別：公表公報出願番号：特願2007-525075 出願人：ザジェネラルホスピタルコーポレイション
試料の機械的歪み及び弾性的性質を測定するプロセス、システム及びソフトウェア
公報種別：公表公報出願番号：特願2007-530134 出願人：ザジェネラルホスピタルコーポレイション
光画像計測装置及び光画像計測方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-299036 出願人：株式会社トプコン

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