特許
J-GLOBAL ID：200903014010865987

材料の寿命評価方法、及び疲労破壊の防止方法

発明者：
馬越 佑吉

馬越 佑吉 について

, 
安田 弘行

安田 弘行 について


出願人/特許権者：
大阪大学長

大阪大学長 について


代理人 (1件)： 杉村 興作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-127357
公開番号（公開出願番号）：特開2004-333231
出願日： 2003年05月02日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：
【課題】疲労亀裂発生前に材料の損傷過程を捉えることのできる新規な材料の寿命評価方法を提供するとともに、材料の疲労破壊を未然に防止する方法を提供する。【解決手段】所定の材料に対して応力を繰り返し負荷し、前記材料に対する前記応力の負荷開始から破断までの自発磁化の変化を予めモニターする。次いで、前記材料の、前記応力負荷の繰り返し数と前記自発磁化との相関を導出する。次いで、前記材料の実際の使用において、前記材料の自発磁化を随時モニターし、その自発磁化の大きさを前記応力負荷の繰り返し数と前記自発磁化との前記相関と比較することにより、前記材料の寿命を評価し、前記材料の疲労破壊を未然に防止する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
所定の材料に対して応力を繰り返し負荷し、前記材料中の、変形誘起磁気遷移を通じて生じた自発磁化の大きさから前記材料の寿命を評価することを特徴とする、材料の寿命評価方法。
IPC (3件)：
G01N17/00 ,  G01N3/32 ,  G01N27/72
FI (3件)：
G01N17/00 ,  G01N3/32 E ,  G01N27/72
Fターム (17件)：
2G050AA01 ,  2G050BA12 ,  2G050DA03 ,  2G050EA10 ,  2G050EB10 ,  2G050EC05 ,  2G053AA14 ,  2G053AB01 ,  2G053BA10 ,  2G053BB18 ,  2G053CB23 ,  2G061AA02 ,  2G061AB06 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061EB10 ,  2G061EC02
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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