特許
J-GLOBAL ID：200903014013187548

距離測定装置

発明者：
赤須 雅平

赤須 雅平 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146480
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015415
出願日： 1994年06月28日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：
【要約】【目的】光の往復時間より距離を求める距離測定装置において、干渉光の入射の有無を判定できるようにする。また、干渉光有りと判定されたとき、干渉光に起因する信頼性の低い距離測定データを排除する。【構成】送光手段2から送光され物体10により反射された反射パルス光Eを受光手段3が受光し受光信号Jを測距手段4に出力する。同時に干渉検出手段5は受光信号Jのレベルが所定の値以上のとき入射光G中に干渉光Sがあると判定する。
請求項（抜粋）：
距離を測定すべき測定対象の方向にパルス光を送光する送光手段と、上記測定対象から反射される反射パルス光を含めた入射光を受光する受光手段と、上記パルス光の送光から上記入射光の受光までの時間を計測し上記測定対象までの距離を算出する距離測定手段と、上記入射光の強度に基づき上記入射光中における干渉光の有無を判定する干渉検出手段とを備えた距離測定装置。
IPC (2件)：
G01S 7/48 ,  G01S 17/10
引用特許：
審査官引用 (10件)
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