特許
J-GLOBAL ID：200903014411181355
テスト支援方法及びテスト支援装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-301409
公開番号（公開出願番号）：特開2005-073043
出願日： 2003年08月26日
公開日（公表日）： 2005年03月17日
要約：
【課題】 本番系システムとテスト支援装置との並行運転テストを、上記本番系システムを変更することなく実施できるようにする。【解決手段】 本番系システム11内で送受信されるデータをキャプチャー機器12によりキャプチャーするキャプチャー処理と、上記キャプチャーされたデータをテスト機器13へ転送するキャプチャーデータ転送処理と、上記転送されたデータを用いて上記本番系システム11の運転テストを行なう処理とを行なうようにすることにより、上記本番系システム11の改造を何ら行なうことなく、アプリケーションプログラムの開発工程における本番系システム11とテスト支援装置10との並行運転を行なうことができるようにする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
本番系システムにおけるアプリケーションプログラムの開発工程で本番系システムとテスト支援装置との並行運転テストを支援するためのテスト支援方法であって、
上記本番系システム内で送受信されるデータをキャプチャー機器によりキャプチャーするとともに、上記キャプチャーしたデータをテスト機器へ転送し、上記転送されたデータを用いて上記本番系システムの運転テストを上記テスト機器において行なうようにしたことを特徴とするテスト支援方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
5K035AA03
, 5K035DD01
, 5K035EE09
, 5K035GG02
, 5K035GG05
, 5K035GG14
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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