レーザ測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大塚秀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-140673
公開番号（公開出願番号）：特開2004-340880
出願日： 2003年05月19日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：

【課題】追尾対象を追尾して該追尾対象の位置を随時検知することにより、移動する測定対象の測定や指示された測定対象の測定を行えるようにすること。【解決手段】光信号処理部103〜105は、互いに波長の異なるレーザ光を、共通の光路Aを介して測定対象に取り付けられたコーナーキューブ100に出力し、又、コーナーキューブ100で反射したレーザ光を各々検出する。制御部102は、光信号処理部103の光位置検出素子117の所定位置にレーザ光が戻るようにモータ110、111を制御し、これによって反射ミラー112の向きを制御して、レーザ光を追尾対象に追尾させる。制御部102は、光信号処理部104、105から出力されるレーザ光を追尾対象に追尾させつつ、光信号処理部104、105で検出した信号に基づいて、測定対象までの距離、測定対象の形状、位置、速度等を算出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象の特性を測定するための測定用レーザ光を発生する測定用レーザ光発生手段と、前記測定用レーザ光が進む向きを制御する導光手段と、前記測定対象から戻った測定用レーザ光を使用して前記測定対象の特性を測定する測定手段と、追尾対象の位置を検知する位置検知手段と、前記位置検知手段で検知した前記追尾対象の位置に基づいて、前記測定用レーザ光が前記追尾対象に照射されるように前記導光手段を制御する制御手段とを備えて成り、前記測定手段は、前記測定用レーザ光が前記測定対象に照射されるよう制御された状態で前記測定対象から戻った前記測定用レーザ光を使用して前記測定対象の特性を測定することを特徴とするレーザ測定装置。

IPC (2件)：

G01S17/36 , G01S17/66

FI (2件)：

G01S17/36 , G01S17/66

Fターム (41件)：

5J084AA04 , 5J084AA05 , 5J084AA07 , 5J084AA13 , 5J084AC07 , 5J084AD02 , 5J084AD06 , 5J084AD07 , 5J084BA04 , 5J084BA05 , 5J084BA08 , 5J084BA33 , 5J084BA36 , 5J084BA38 , 5J084BA41 , 5J084BA43 , 5J084BA44 , 5J084BA47 , 5J084BA50 , 5J084BA57 , 5J084BB14 , 5J084BB15 , 5J084BB20 , 5J084BB24 , 5J084BB28 , 5J084BB31 , 5J084CA23 , 5J084CA24 , 5J084CA31 , 5J084CA65 , 5J084CA67 , 5J084CA70 , 5J084CA71 , 5J084CA78 , 5J084DA01 , 5J084DA02 , 5J084DA04 , 5J084DA05 , 5J084DA07 , 5J084EA23 , 5J084EA29

引用特許：

審査官引用 (7件)

特開昭62-015479
特開昭63-225121
三次元位置計測システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-183345 出願人：株式会社ネクスタ, 株式会社雄島試作研究所

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