特許
J-GLOBAL ID：200903014483986099

位置姿勢計測方法及び装置

発明者：
遠藤 隆明

遠藤 隆明 について

, 
佐藤 清秀

佐藤 清秀 について

, 
内山 晋二

内山 晋二 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-249962
公開番号（公開出願番号）：特開2008-070267
出願日： 2006年09月14日
公開日（公表日）： 2008年03月27日
要約：
【課題】 現実空間中の指標を用いて撮像装置の位置及び姿勢を算出する際の精度及び/又は安定性を向上させる。【解決手段】 主観視点カメラ160の撮像画像から現実空間中の指標を検出する主観視点指標検出部130と、主観視点カメラ160と空間分解能の異なる追加主観視点カメラ170の撮像画像から現実空間中の指標を検出する追加主観視点指標検出部140と、検出された指標の画像座標に関する情報を用いて主観視点カメラ160の位置及び姿勢を算出する位置姿勢推定部150とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
現実空間を撮像する第1の撮像装置で撮像された第1の画像を入力する第1の画像入力工程と、 前記第1の撮像装置との相対的な位置及び姿勢が固定で、かつ前記第1の撮像装置と空間分解能の異なる第2の撮像装置で撮像された第2の画像を入力する第2の画像入力工程と、 前記第1の画像から、前記現実空間中の指標の画像座標に関する特徴量を検出する第1の検出工程と、 前記第2の画像から、前記現実空間中の指標の画像座標に関する特徴量を検出する第2の検出工程と、 前記第1の検出工程及び前記第2の検出工程で検出された、前記指標の画像座標に関わる特徴量に基づいて、前記第1の撮像装置の位置及び姿勢を算出する位置姿勢算出工程とを備えることを特徴とする位置姿勢計測方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00 ,  G06T 1/00 ,  G01C 15/00
FI (3件)：
G01B11/00 H ,  G06T1/00 315 ,  G01C15/00 101
Fターム (31件)：
2F065AA04 ,  2F065AA31 ,  2F065AA37 ,  2F065BB27 ,  2F065BB29 ,  2F065DD03 ,  2F065EE00 ,  2F065EE05 ,  2F065EE08 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065RR06 ,  2F065UU05 ,  5B057BA02 ,  5B057CD14 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08 ,  5B057DC14 ,  5B057DC33
引用特許：
出願人引用 (16件)
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審査官引用 (15件)
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