粒子分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西野卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-079954
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277381
出願日： 2001年03月21日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】複数種類の粒子を含み、かつ種類によってその個数が著しく異なる、という検体を、限られたコスト・処理能力の中で精度良く分析できる粒子分析装置を提供する。【解決手段】一検体に対して第1の検出と第2の検出を行う。まず第1の検出では、フローセルを流れる試料液から各粒子の形態上の特徴を表す情報を信号として検出部が検出する。次に、分析部が前記信号に基づいて粒子を分析する。この分析結果に基づいて第2の検出における粒子の検出条件が設定され、検出部が第2の検出を行い、検出された信号に基づいて分析部が分析を行う。

請求項（抜粋）：

フローセルを流れる試料液から各粒子の形態上の特徴を表す情報を信号として検出する検出部と、検出された信号に基づいて粒子を分析する分析部と、を備えた粒子分析装置であって、前記フローセルにおいて一試料が試料流を形成している間に第1の検出と第2の検出を行い、第1の検出により検出される粒子の分析結果に基づいて、第2の検出における検出条件の設定を行うことを特徴とする粒子分析装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 , G01N 33/49

FI (2件)：

G01N 15/14 C , G01N 33/49 E

Fターム (10件)：

2G045AA02 , 2G045AA15 , 2G045BB14 , 2G045CA25 , 2G045CB03 , 2G045DA80 , 2G045FA11 , 2G045FA37 , 2G045GA01 , 2G045GC22

引用特許：

出願人引用 (7件)

特開平4-151541
粒子解析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-251196 出願人：株式会社日立製作所
粒子解析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-261574 出願人：キヤノン株式会社

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審査官引用 (7件)

特開平4-151541
粒子解析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-251196 出願人：株式会社日立製作所
粒子解析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-261574 出願人：キヤノン株式会社

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